A63.7081 Schottky Field Emission Gun Tarama Elektron Mikroskop Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x~800000x Featured Image

Qısa Təsvir:

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Tarama Elektron Mikroskopu
Stabil Şüa Cari Təchizatla E-Şüanın Sürətlənməsi, Aşağı Gərginlikdə Əla Görüntü
Qeyri-keçiricilik nümunəsi birbaşa müşahidə edilə bilər, aşağı gərginlikdə səpələnməyə ehtiyac yoxdur
Asan və Dostluq Əməliyyat İnterfeysi, hamısı Windows sistemindəki siçan tərəfindən idarə olunur
Beş oxlu evsentrik motorlu səhnə böyük ölçülü otaq, maksimum nümunə çapı 320 mm
Minimum Sifariş Miqdarı:1

Məhsul detalı

Məhsul etiketləri

A63.7081_01.jpg

Məhsul təsviri

A63.7081 Schottky Sahə Emissiya Silahı Elektron Mikroskop Tarama Pro FEG SEM
Görüntü imkanı		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Böyütmə		15x ~ 800000x
Elektron Gun		Schottky Emissiya Elektron Silahı
Elektron şüa cərəyanı		10pA ~ 0.3μA
Voatage sürətləndirir		0 ~ 30KV
Vakum sistemi		2 ion nasosları, turbo molekulyar nasos, mexaniki nasos
Detektor		SE: Yüksək Vakumlu İkincil Elektron Dedektoru (Dedektor Qoruması ilə)
		BSE: Yarımkeçirici Dörd Seqmentasiya Geri Dağılım Dedektoru
		CCD
Nümunə mərhələsi		Beş Eksen Öskentrik Motorlu Mərhələ
Səyahət üçündür	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Maksimum Nümunə Çapı		320 mm
Modifikasiya		EBL; STM; AFM; İstilik Mərhələsi; Krio Mərhələ; Dartılma Mərhələsi; Mikro-nano manipulyasiya; SEM + Kaplama Makinası; SEM + Lazer və s.
Aksesuarlar		X-Ray Detektoru (EDS), EBSD, CL, WDS, Kaplama Makinası və s.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Üstünlük və hallar

Tarama elektron mikroskopu (sem) metalların, keramika, yarımkeçiricilər, minerallar, biologiya, polimerlər, kompozitlər və nano miqyaslı bir ölçülü, iki ölçülü və üç ölçülü materialların səth topoqrafiyasını müşahidə etmək üçün əlverişlidir (ikincil elektron şəkli, Mikros bölgənin nöqtə, xətt və səth komponentlərini təhlil etmək üçün istifadə edilə bilər, neft, geologiya, mineral sahə, elektronika, yarımkeçirici sahə, tibb, biologiya sahəsi, kimya sənayesi, polimer material sahəsi, ictimai təhlükəsizlik, kənd təsərrüfatı, meşə təsərrüfatı və digər sahələrdə cinayət istintaqı.